Lanean...

Defects in semiconductors II : symposium held November 1982 in Boston, Massachusetts, U.S.A. /

Xehetasun bibliografikoak
Beste egile batzuk: Mahajan, Subhash., ed, Corbett, James W., ed
Formatua: Printed Book
Hizkuntza:English
Argitaratua: New York : North-Holland, c1983.
Saila:Materials research society symposia proceedings;
Gaiak:
Deskribapena
Deskribapen fisikoa:xv, 582 p. : ill. ; 24 cm.
ISBN:0444008128
ISSN:v. 14