Semiconductor devices : testing and evaluation /

书目详细资料
主要作者: Jowett, C. E.
格式: Printed Book
语言:English
出版: London : Business Books, 1974.
主题:
Semiconductors > Testing
实物特征
Item Description:Includes index.
实物描述:[ix], 134 p. : ill. ; 24 cm.
ISBN:0220662215 :

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