Semiconductor devices : testing and evaluation /

書誌詳細
第一著者: Jowett, C. E.
フォーマット: Printed Book
言語:English
出版事項: London : Business Books, 1974.
主題:
Semiconductors > Testing
その他の書誌記述
記述事項:Includes index.
物理的記述:[ix], 134 p. : ill. ; 24 cm.
ISBN:0220662215 :

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