Semiconductor devices : testing and evaluation /

מידע ביבליוגרפי
מחבר ראשי: Jowett, C. E.
פורמט: Printed Book
שפה:English
יצא לאור: London : Business Books, 1974.
נושאים:
Semiconductors > Testing
תיאור
תאור פריט:Includes index.
תיאור פיזי:[ix], 134 p. : ill. ; 24 cm.
ISBN:0220662215 :

פריטים דומים