Principles of semiconductor network testing /

Sonraí Bibleagrafaíochta
Príomhúdar: Afshar, Amir
Formáid: Printed Book
Teanga:English
Foilsithe: Boston : Butterworth-Heinemann, c1995.
Ábhair:
Integrated circuits--Testing. > Semiconductors--Testing.

PHY

Sonraí sealbhúcháin ó PHY
Gairmuimhir: 621.3815/48 AFS
Cóip Live Status Unavailable

Míreanna Comhchosúla