טוען...

QR Code

Principles of semiconductor network testing /

מידע ביבליוגרפי
מחבר ראשי:	Afshar, Amir
פורמט:	Printed Book
שפה:	English
יצא לאור:	Boston : Butterworth-Heinemann, c1995.
נושאים:	Integrated circuits--Testing. > Semiconductors--Testing.

פריטים דומים

Semiconductor devices : testing and evaluation /
מאת: Jowett, C. E.
יצא לאור: (1974)

Semiconductor material and device characterization /
מאת: Schroder, Dieter K.
יצא לאור: (1998)

Random testing of digital circuits: theory and applications
מאת: David, Rene; Author
יצא לאור: (1998)

Integrated Circuits and Semiconductor Devices: Theory and Application
מאת: Deboo,Gordon J.
יצא לאור: (1977)

Semiconductor circuit approximations: an introduction to transistors and integrated circuits
מאת: Malvino, Albert Paul
יצא לאור: (1986)

VLSI test principles and architectures: design for testability
מאת: Wang, laung-Terng [ed.]
יצא לאור: (2006)

System-on-chip test architectures: nanometer design for testability
מאת: Wang, Laung-Terng
יצא לאור: (2008)

Semiconductor circuit approximations
מאת: Malvino, Albert Paul
יצא לאור: (1985)

Device electronics for integrated circuits /
מאת: Muller, Richard S.
יצא לאור: (1977)

Electronic circuits : design and applications /
מאת: Tietze, U.
יצא לאור: (1991)

Solid-state devices and integrated circuits /
מאת: Cooper, William David
יצא לאור: (1982)

The Semiconductor Integrated Circuits Layout-Design Act, 2000
מאת: Bare Act
יצא לאור: (2015)

Essentials of semiconductor circuits
מאת: Hess, Edward M
יצא לאור: (1976)

Nondestructive testing handbook;v.4 electromagnetic testing
יצא לאור: (1986)

Defects in microelectronic materials and devices
מאת: Fleetwood, Daniel M.
יצא לאור: (2009)

Essentials of phychological testing
מאת: Cronbach, Lee J
יצא לאור: (1949)

Phychological testing
מאת: Anastasi, Anne
יצא לאור: (1988)

Psychological testing
מאת: Anastasi, Anne
יצא לאור: (1976)

Psychological Testing
מאת: Anastasi,Anne
יצא לאור: (1976)

Ultrasonic testing: non conventional testing techniques
מאת: Szilard, J
יצא לאור: (1982)

Handbook of semiconductor lasers and photonic integrated circuits
מאת: Suematsu [ed.]
יצא לאור: (1994)

Understanding plastics testing
מאת: Hytton, Donald C.
יצא לאור: (2004)

Managing the testing process /
מאת: Black, Rex .
יצא לאור: (1999)

100 Statistical Tests
מאת: Gopal K Kanji
יצא לאור: (2006)

Language testing and assessment
מאת: Clapham, Caroline; Editor, et al.
יצא לאור: (1997)

Essentials of psychological testing
מאת: Cronbach, Lee J
יצא לאור: (1984)

IQ and personality tests
מאת: Carter, Philip
יצא לאור: (2008)

Laboratory testing of soils, rocks and aggregates
מאת: Sivakugan
יצא לאור: (2014)

Testing psychological tests
מאת: Cohen, David, et al.
יצא לאור: (1986)

Semiconductors: physics, devices, and circuits
מאת: Cirovic, Michael M.
יצא לאור: (1971)

Nondestructive testing handbook;v.5acoustic emission testing
מאת: Miller, Ronnie K.
יצא לאור: (1987)

Psychological testing and assessment
מאת: Aiken, Lewis R; Author
יצא לאור: (2003)

Electrical and magnetic methods of non-destructive testing /
מאת: Blitz, Jack
יצא לאור: (1997)

Theory and practice of psychological testing
מאת: Freeman, Frank S
יצא לאור: (1962)

Psychological testing: History, Principles, and Applications /
מאת: Gregory,, Robert J.
יצא לאור: (2007)

Semiconductor-on-insulator and thin film transistor technology : symposium held December 3-6, 1985, Boston, Massachusetts, U.S.A. /
יצא לאור: (1986)

Test of reasoning /
מאת: Thorpe, Edgar
יצא לאור: (2014)

Biochemical tests : principles and protocols /
מאת: Anil Kumar
יצא לאור: (2015)

Software testing: principles and practices
מאת: Desikan, Srinivasan
יצא לאור: (2012)

Diode lasers and photonic integrated circuits /
מאת: Coldren, L. A.
יצא לאור: (1995)