Φορτώνει......
Principles of semiconductor network testing /
| Κύριος συγγραφέας: | Afshar, Amir |
|---|---|
| Μορφή: | Printed Book |
| Γλώσσα: | English |
| Έκδοση: |
Boston :
Butterworth-Heinemann,
c1995.
|
| Θέματα: |
Παρόμοια τεκμήρια
-
Semiconductor devices : testing and evaluation /
ανά: Jowett, C. E.
Έκδοση: (1974) -
Semiconductor material and device characterization /
ανά: Schroder, Dieter K.
Έκδοση: (1998) -
Random testing of digital circuits: theory and applications
ανά: David, Rene; Author
Έκδοση: (1998) -
Integrated Circuits and Semiconductor Devices: Theory and Application
ανά: Deboo,Gordon J.
Έκδοση: (1977) -
Semiconductor circuit approximations: an introduction to transistors and integrated circuits
ανά: Malvino, Albert Paul
Έκδοση: (1986)