تحميل...

QR رمز

Principles of semiconductor network testing /

التفاصيل البيبلوغرافية
المؤلف الرئيسي:	Afshar, Amir
التنسيق:	Printed Book
اللغة:	English
منشور في:	Boston : Butterworth-Heinemann, c1995.
الموضوعات:	Integrated circuits--Testing. > Semiconductors--Testing.

مواد مشابهة

Semiconductor devices : testing and evaluation /
بواسطة: Jowett, C. E.
منشور في: (1974)

Semiconductor material and device characterization /
بواسطة: Schroder, Dieter K.
منشور في: (1998)

Random testing of digital circuits: theory and applications
بواسطة: David, Rene; Author
منشور في: (1998)

Integrated Circuits and Semiconductor Devices: Theory and Application
بواسطة: Deboo,Gordon J.
منشور في: (1977)

Semiconductor circuit approximations: an introduction to transistors and integrated circuits
بواسطة: Malvino, Albert Paul
منشور في: (1986)

VLSI test principles and architectures: design for testability
بواسطة: Wang, laung-Terng [ed.]
منشور في: (2006)

System-on-chip test architectures: nanometer design for testability
بواسطة: Wang, Laung-Terng
منشور في: (2008)

Semiconductor circuit approximations
بواسطة: Malvino, Albert Paul
منشور في: (1985)

Device electronics for integrated circuits /
بواسطة: Muller, Richard S.
منشور في: (1977)

Electronic circuits : design and applications /
بواسطة: Tietze, U.
منشور في: (1991)

Solid-state devices and integrated circuits /
بواسطة: Cooper, William David
منشور في: (1982)

The Semiconductor Integrated Circuits Layout-Design Act, 2000
بواسطة: Bare Act
منشور في: (2015)

Essentials of semiconductor circuits
بواسطة: Hess, Edward M
منشور في: (1976)

Nondestructive testing handbook;v.4 electromagnetic testing
منشور في: (1986)

Defects in microelectronic materials and devices
بواسطة: Fleetwood, Daniel M.
منشور في: (2009)

Essentials of phychological testing
بواسطة: Cronbach, Lee J
منشور في: (1949)

Phychological testing
بواسطة: Anastasi, Anne
منشور في: (1988)

Psychological testing
بواسطة: Anastasi, Anne
منشور في: (1976)

Psychological Testing
بواسطة: Anastasi,Anne
منشور في: (1976)

Ultrasonic testing: non conventional testing techniques
بواسطة: Szilard, J
منشور في: (1982)

Handbook of semiconductor lasers and photonic integrated circuits
بواسطة: Suematsu [ed.]
منشور في: (1994)

Understanding plastics testing
بواسطة: Hytton, Donald C.
منشور في: (2004)

Managing the testing process /
بواسطة: Black, Rex .
منشور في: (1999)

100 Statistical Tests
بواسطة: Gopal K Kanji
منشور في: (2006)

Language testing and assessment
بواسطة: Clapham, Caroline; Editor, وآخرون
منشور في: (1997)

Essentials of psychological testing
بواسطة: Cronbach, Lee J
منشور في: (1984)

IQ and personality tests
بواسطة: Carter, Philip
منشور في: (2008)

Laboratory testing of soils, rocks and aggregates
بواسطة: Sivakugan
منشور في: (2014)

Testing psychological tests
بواسطة: Cohen, David, وآخرون
منشور في: (1986)

Semiconductors: physics, devices, and circuits
بواسطة: Cirovic, Michael M.
منشور في: (1971)

Nondestructive testing handbook;v.5acoustic emission testing
بواسطة: Miller, Ronnie K.
منشور في: (1987)

Psychological testing and assessment
بواسطة: Aiken, Lewis R; Author
منشور في: (2003)

Electrical and magnetic methods of non-destructive testing /
بواسطة: Blitz, Jack
منشور في: (1997)

Theory and practice of psychological testing
بواسطة: Freeman, Frank S
منشور في: (1962)

Psychological testing: History, Principles, and Applications /
بواسطة: Gregory,, Robert J.
منشور في: (2007)

Semiconductor-on-insulator and thin film transistor technology : symposium held December 3-6, 1985, Boston, Massachusetts, U.S.A. /
منشور في: (1986)

Test of reasoning /
بواسطة: Thorpe, Edgar
منشور في: (2014)

Biochemical tests : principles and protocols /
بواسطة: Anil Kumar
منشور في: (2015)

Software testing: principles and practices
بواسطة: Desikan, Srinivasan
منشور في: (2012)

Diode lasers and photonic integrated circuits /
بواسطة: Coldren, L. A.
منشور في: (1995)