Principles of semiconductor network testing /

Bibliografische gegevens
Hoofdauteur: Afshar, Amir
Formaat: Printed Book
Taal:English
Gepubliceerd in: Boston : Butterworth-Heinemann, c1995.
Onderwerpen:
Integrated circuits--Testing. > Semiconductors--Testing.

PHY

Exemplaargegevens van PHY
Plaatsingsnummer: 621.3815/48 AFS
Kopie Status is onbeschikbaar

Gelijkaardige items