Principles of semiconductor network testing /

מידע ביבליוגרפי
מחבר ראשי: Afshar, Amir
פורמט: Printed Book
שפה:English
יצא לאור: Boston : Butterworth-Heinemann, c1995.
נושאים:
Integrated circuits--Testing. > Semiconductors--Testing.

PHY

פרטי מלאי ספרים מ PHY
סימן המיקום: 621.3815/48 AFS
עותק סטטוס עדכני לא זמין

פריטים דומים