Principles of semiconductor network testing /

Xehetasun bibliografikoak
Egile nagusia: Afshar, Amir
Formatua: Printed Book
Hizkuntza:English
Argitaratua: Boston : Butterworth-Heinemann, c1995.
Gaiak:
Integrated circuits--Testing. > Semiconductors--Testing.

PHY

Aleari buruzko argibideak PHY
Sailkapena: 621.3815/48 AFS
Alea Egoera zuzenean ez dago erabilgarri

Antzeko izenburuak