Principles of semiconductor network testing /

Detalles Bibliográficos
Autor principal: Afshar, Amir
Formato: Printed Book
Lenguaje:English
Publicado: Boston : Butterworth-Heinemann, c1995.
Materias:
Integrated circuits--Testing. > Semiconductors--Testing.

PHY

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Número de Clasificación: 621.3815/48 AFS
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