Principles of semiconductor network testing /

Bibliographische Detailangaben
1. Verfasser: Afshar, Amir
Format: Printed Book
Sprache:English
Veröffentlicht: Boston : Butterworth-Heinemann, c1995.
Schlagworte:
Integrated circuits--Testing. > Semiconductors--Testing.

PHY

Bestandesangaben von PHY
Signatur: 621.3815/48 AFS
Exemplar Live-Status nicht verfügbar

Ähnliche Einträge