Principles of semiconductor network testing /

Podrobná bibliografie
Hlavní autor: Afshar, Amir
Médium: Printed Book
Jazyk:English
Vydáno: Boston : Butterworth-Heinemann, c1995.
Témata:
Integrated circuits--Testing. > Semiconductors--Testing.

PHY

Informace o exemplářích z: PHY
Signatura: 621.3815/48 AFS
Jednotka Neznámá aktuální dostupnost

Podobné jednotky