Principles of semiconductor network testing /

التفاصيل البيبلوغرافية
المؤلف الرئيسي: Afshar, Amir
التنسيق: Printed Book
اللغة:English
منشور في: Boston : Butterworth-Heinemann, c1995.
الموضوعات:
Integrated circuits--Testing. > Semiconductors--Testing.

PHY

تفاصيل المقتنيات من PHY
رقم الطلب: 621.3815/48 AFS
النسخة الحالة المباشرة غير متاحة

مواد مشابهة