Principles of semiconductor network testing /

書目詳細資料
主要作者: Afshar, Amir
格式: Printed Book
語言:English
出版: Boston : Butterworth-Heinemann, c1995.
主題:
Integrated circuits--Testing. > Semiconductors--Testing.
實物特徵
實物描述:xiv, 213 p. : ill. ; 25 cm.
ISBN:0750694726

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