Principles of semiconductor network testing /

Detaylı Bibliyografya
Yazar: Afshar, Amir
Materyal Türü: Printed Book
Dil:English
Baskı/Yayın Bilgisi: Boston : Butterworth-Heinemann, c1995.
Konular:
Integrated circuits--Testing. > Semiconductors--Testing.
Diğer Bilgiler
Fiziksel Özellikler:xiv, 213 p. : ill. ; 25 cm.
ISBN:0750694726

Benzer Materyaller