Principles of semiconductor network testing /

Библиографические подробности
Главный автор: Afshar, Amir
Формат: Printed Book
Язык:English
Опубликовано: Boston : Butterworth-Heinemann, c1995.
Предметы:
Integrated circuits--Testing. > Semiconductors--Testing.
Описание
Объем:xiv, 213 p. : ill. ; 25 cm.
ISBN:0750694726

Схожие документы