Principles of semiconductor network testing /

Bibliografische gegevens
Hoofdauteur: Afshar, Amir
Formaat: Printed Book
Taal:English
Gepubliceerd in: Boston : Butterworth-Heinemann, c1995.
Onderwerpen:
Integrated circuits--Testing. > Semiconductors--Testing.
Omschrijving
Fysieke beschrijving:xiv, 213 p. : ill. ; 25 cm.
ISBN:0750694726

Gelijkaardige items