Principles of semiconductor network testing /

Dettagli Bibliografici
Autore principale: Afshar, Amir
Natura: Printed Book
Lingua:English
Pubblicazione: Boston : Butterworth-Heinemann, c1995.
Soggetti:
Integrated circuits--Testing. > Semiconductors--Testing.
Descrizione
Descrizione fisica:xiv, 213 p. : ill. ; 25 cm.
ISBN:0750694726

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