Principles of semiconductor network testing /

מידע ביבליוגרפי
מחבר ראשי: Afshar, Amir
פורמט: Printed Book
שפה:English
יצא לאור: Boston : Butterworth-Heinemann, c1995.
נושאים:
Integrated circuits--Testing. > Semiconductors--Testing.
תיאור
תיאור פיזי:xiv, 213 p. : ill. ; 25 cm.
ISBN:0750694726

פריטים דומים