Principles of semiconductor network testing /

Sonraí Bibleagrafaíochta
Príomhúdar: Afshar, Amir
Formáid: Printed Book
Teanga:English
Foilsithe: Boston : Butterworth-Heinemann, c1995.
Ábhair:
Integrated circuits--Testing. > Semiconductors--Testing.
Cur Síos
Cur Síos Fisiciúil:xiv, 213 p. : ill. ; 25 cm.
ISBN:0750694726

Míreanna Comhchosúla