Principles of semiconductor network testing /

Bibliografiset tiedot
Päätekijä: Afshar, Amir
Aineistotyyppi: Printed Book
Kieli:English
Julkaistu: Boston : Butterworth-Heinemann, c1995.
Aiheet:
Integrated circuits--Testing. > Semiconductors--Testing.
Kuvaus
Ulkoasu:xiv, 213 p. : ill. ; 25 cm.
ISBN:0750694726

Samankaltaisia teoksia