Principles of semiconductor network testing /

Xehetasun bibliografikoak
Egile nagusia: Afshar, Amir
Formatua: Printed Book
Hizkuntza:English
Argitaratua: Boston : Butterworth-Heinemann, c1995.
Gaiak:
Integrated circuits--Testing. > Semiconductors--Testing.
Deskribapena
Deskribapen fisikoa:xiv, 213 p. : ill. ; 25 cm.
ISBN:0750694726

Antzeko izenburuak