Principles of semiconductor network testing /

Detalles Bibliográficos
Autor principal: Afshar, Amir
Formato: Printed Book
Lenguaje:English
Publicado: Boston : Butterworth-Heinemann, c1995.
Materias:
Integrated circuits--Testing. > Semiconductors--Testing.
Descripción
Descripción Física:xiv, 213 p. : ill. ; 25 cm.
ISBN:0750694726

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