Principles of semiconductor network testing /

Podrobná bibliografie
Hlavní autor: Afshar, Amir
Médium: Printed Book
Jazyk:English
Vydáno: Boston : Butterworth-Heinemann, c1995.
Témata:
Integrated circuits--Testing. > Semiconductors--Testing.
Popis
Fyzický popis:xiv, 213 p. : ill. ; 25 cm.
ISBN:0750694726

Podobné jednotky