Principles of semiconductor network testing /

গ্রন্থ-পঞ্জীর বিবরন
প্রধান লেখক: Afshar, Amir
বিন্যাস: Printed Book
ভাষা:English
প্রকাশিত: Boston : Butterworth-Heinemann, c1995.
বিষয়গুলি:
Integrated circuits--Testing. > Semiconductors--Testing.
বিবরন
দৈহিক বর্ননা:xiv, 213 p. : ill. ; 25 cm.
আইসবিএন:0750694726

অনুরূপ উপাদানগুলি