Defect recognition and image processing in semiconductors 1997 : proceedings of the 7th International Conference on Defect Recognition and Image Processing in Semiconductors (DRIP VII) held in Templin, Germany, 7-10 September 1997 /

Chi tiết về thư mục
Tác giả của công ty: International Conference on Defect Recognition and Image Processing in Semiconductors Templin, Germany
Tác giả khác: Donecker, J., ed, Rechenberg, I., ed
Định dạng: Printed Book
Ngôn ngữ:English
Được phát hành: Bristol ; Institute of Physics Pub., 1998.
Loạt:Institute of physics series; no. 160
Những chủ đề:
Semiconductors--Defects--Congresses. > Image processing--Congresses.

PHY

Chi tiết quỹ từ PHY
Số hiệu: 621.3815/2 DON
Sao chép Trạng thái trực tiếp không khả dụng

Những quyển sách tương tự