Ładuje się......
Defect recognition and image processing in semiconductors 1997 : proceedings of the 7th International Conference on Defect Recognition and Image Processing in Semiconductors (DRIP VII) held in Templin, Germany, 7-10 September 1997 /
| Korporacja: | |
|---|---|
| Kolejni autorzy: | , |
| Format: | Printed Book |
| Język: | English |
| Wydane: |
Bristol ;
Institute of Physics Pub.,
1998.
|
| Seria: | Institute of physics series;
no. 160 |
| Hasła przedmiotowe: |
PHY
| Sygnatura: |
621.3815/2 DON |
|---|---|
| Egzemplarz | Możliwość dostępu nieznana |