Lataa...
Defect recognition and image processing in semiconductors 1997 : proceedings of the 7th International Conference on Defect Recognition and Image Processing in Semiconductors (DRIP VII) held in Templin, Germany, 7-10 September 1997 /
| Yhteisötekijä: | |
|---|---|
| Muut tekijät: | , |
| Aineistotyyppi: | Printed Book |
| Kieli: | English |
| Julkaistu: |
Bristol ;
Institute of Physics Pub.,
1998.
|
| Sarja: | Institute of physics series;
no. 160 |
| Aiheet: |
PHY
| Hyllypaikka: |
621.3815/2 DON |
|---|---|
| Nide | Reaaliaikaista tietoa ei saatavissa |