Defect recognition and image processing in semiconductors 1997 : proceedings of the 7th International Conference on Defect Recognition and Image Processing in Semiconductors (DRIP VII) held in Templin, Germany, 7-10 September 1997 /

التفاصيل البيبلوغرافية
مؤلف مشترك: International Conference on Defect Recognition and Image Processing in Semiconductors Templin, Germany
مؤلفون آخرون: Donecker, J., ed, Rechenberg, I., ed
التنسيق: Printed Book
اللغة:English
منشور في: Bristol ; Institute of Physics Pub., 1998.
سلاسل:Institute of physics series; no. 160
الموضوعات:
Semiconductors--Defects--Congresses. > Image processing--Congresses.

PHY

تفاصيل المقتنيات من PHY
رقم الطلب: 621.3815/2 DON
النسخة الحالة المباشرة غير متاحة

مواد مشابهة