Defect recognition and image processing in semiconductors 1997 : proceedings of the 7th International Conference on Defect Recognition and Image Processing in Semiconductors (DRIP VII) held in Templin, Germany, 7-10 September 1997 /

מידע ביבליוגרפי
מחבר תאגידי: International Conference on Defect Recognition and Image Processing in Semiconductors Templin, Germany
מחברים אחרים: Donecker, J., ed, Rechenberg, I., ed
פורמט: Printed Book
שפה:English
יצא לאור: Bristol ; Institute of Physics Pub., 1998.
סדרה:Institute of physics series; no. 160
נושאים:
Semiconductors--Defects--Congresses. > Image processing--Congresses.

PHY

פרטי מלאי ספרים מ PHY
סימן המיקום: 621.3815/2 DON
עותק סטטוס עדכני לא זמין

פריטים דומים