Defect recognition and image processing in semiconductors 1997 : proceedings of the 7th International Conference on Defect Recognition and Image Processing in Semiconductors (DRIP VII) held in Templin, Germany, 7-10 September 1997 /

গ্রন্থ-পঞ্জীর বিবরন
সংস্থা লেখক: International Conference on Defect Recognition and Image Processing in Semiconductors Templin, Germany
অন্যান্য লেখক: Donecker, J., ed, Rechenberg, I., ed
বিন্যাস: Printed Book
ভাষা:English
প্রকাশিত: Bristol ; Institute of Physics Pub., 1998.
মালা:Institute of physics series; no. 160
বিষয়গুলি:
Semiconductors--Defects--Congresses. > Image processing--Congresses.
বিবরন
দৈহিক বর্ননা:xx, 524 p. : ill. ; 24 cm.
আইসবিএন:0750305002

অনুরূপ উপাদানগুলি