Wordt geladen...

Multiple-beam interference microscopy of metals,

Bibliografische gegevens
Hoofdauteur: Tolansky, S.
Formaat: Printed Book
Taal:English
Gepubliceerd in: London, Academic Press, 1970.
Onderwerpen:

PHY

Exemplaargegevens van PHY
Plaatsingsnummer: 669.9/5/0282 TOL
Kopie Status is onbeschikbaar