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Multiple-beam interference microscopy of metals,

Detalles Bibliográficos
Autor Principal: Tolansky, S.
Formato: Printed Book
Idioma:English
Publicado: London, Academic Press, 1970.
Subjects:

PHY

Detalle de Existencias desde PHY
Número de Clasificación: 669.9/5/0282 TOL
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