Multiple-beam interference microscopy of metals,

Detalles Bibliográficos
Autor principal: Tolansky, S.
Formato: Printed Book
Lenguaje:English
Publicado: London, Academic Press, 1970.
Materias:
Interference microscopy > Metallography

PHY

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Número de Clasificación: 669.9/5/0282 TOL
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