Multiple-beam interference microscopy of metals,

Bibliographische Detailangaben
1. Verfasser: Tolansky, S.
Format: Printed Book
Sprache:English
Veröffentlicht: London, Academic Press, 1970.
Schlagworte:
Interference microscopy > Metallography

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Bestandesangaben von PHY
Signatur: 669.9/5/0282 TOL
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