Načítá se...

Multiple-beam interference microscopy of metals,

Podrobná bibliografie
Hlavní autor: Tolansky, S.
Médium: Printed Book
Jazyk:English
Vydáno: London, Academic Press, 1970.
Témata:

PHY

Informace o exemplářích z: PHY
Signatura: 669.9/5/0282 TOL
Jednotka Neznámá aktuální dostupnost