Carregant...
Multiple-beam interference microscopy of metals,
Autor principal: | |
---|---|
Format: | Printed Book |
Idioma: | English |
Publicat: |
London,
Academic Press,
1970.
|
Matèries: |
PHY
Signatura: |
669.9/5/0282 TOL |
---|---|
Còpia | Comprovació en temps real no disponible |