Multiple-beam interference microscopy of metals,

מידע ביבליוגרפי
מחבר ראשי: Tolansky, S.
פורמט: Printed Book
שפה:English
יצא לאור: London, Academic Press, 1970.
נושאים:
Interference microscopy > Metallography
תיאור
תיאור פיזי:ix, 147 p. illus. 24 cm.
ISBN:0126926506

פריטים דומים