טוען...
Ellipsometry: proceedings of the third international conference on wllipsometry
| מחברים אחרים: | Bashara, N. M., ed, Azzam, R. M. A., ed |
|---|---|
| פורמט: | Printed Book |
| שפה: | English |
| יצא לאור: |
Amsterdam
North-Holland
1976
|
| נושאים: |
פריטים דומים
-
Ellipsometry at the nanoscale/
יצא לאור: (2012) -
Infrared ellipsometry on semiconductor layer structures: Phonons, plasmons, and polaritons
מאת: Schubert, Mathias
יצא לאור: (2004) - Spectroscopic ellipsometry study of barrier width effect in self-organized InGaAs/GaAsQDs laser diodes /
-
Ellipsometry and polarized light
מאת: Azzam, R M A
יצא לאור: (1977) -
Characterization of CdS based multilayer thin films useful for photovoltaic device fabrication using different techniques with emphasis on ellipsometry
מאת: Sunny Mathew
יצא לאור: (1994)