লোডিং...
Ellipsometry: proceedings of the third international conference on wllipsometry
| অন্যান্য লেখক: | Bashara, N. M., ed, Azzam, R. M. A., ed |
|---|---|
| বিন্যাস: | Printed Book |
| ভাষা: | English |
| প্রকাশিত: |
Amsterdam
North-Holland
1976
|
| বিষয়গুলি: |
অনুরূপ উপাদানগুলি
-
Ellipsometry at the nanoscale/
প্রকাশিত: (2012) -
Infrared ellipsometry on semiconductor layer structures: Phonons, plasmons, and polaritons
অনুযায়ী: Schubert, Mathias
প্রকাশিত: (2004) - Spectroscopic ellipsometry study of barrier width effect in self-organized InGaAs/GaAsQDs laser diodes /
-
Ellipsometry and polarized light
অনুযায়ী: Azzam, R M A
প্রকাশিত: (1977) -
Characterization of CdS based multilayer thin films useful for photovoltaic device fabrication using different techniques with emphasis on ellipsometry
অনুযায়ী: Sunny Mathew
প্রকাশিত: (1994)