Skip to content
VuFind
  • 語言
    • English
    • Deutsch
    • Español
    • Français
    • Italiano
    • 日本語
    • Nederlands
    • Português
    • Português (Brasil)
    • 中文(简体)
    • 中文(繁體)
    • Türkçe
    • עברית
    • Gaeilge
    • Cymraeg
    • Ελληνικά
    • Català
    • Euskara
    • Русский
    • Čeština
    • Suomi
    • Svenska
    • polski
    • Dansk
    • slovenščina
    • اللغة العربية
    • বাংলা
    • Galego
    • Tiếng Việt
    • Hrvatski
    • हिंदी
高級檢索
  • 檢索
  • Ellipsometry:
  • 引用
  • 推薦此
  • 打印
  • 導出紀錄
    • 導出到 RefWorks
    • 導出到 EndNoteWeb
    • 導出到 EndNote
  • permanent_link
載入...

QR Code

Ellipsometry: proceedings of the third international conference on wllipsometry

書目詳細資料
其他作者: Bashara, N. M., ed, Azzam, R. M. A., ed
格式: Printed Book
語言:English
出版: Amsterdam North-Holland 1976
主題:
Ellipsometry
  • 持有資料
  • 實物特徵
  • 相似書籍
  • 職員瀏覽
實物特徵
實物描述:vii,518p.

相似書籍

  • Ellipsometry at the nanoscale/
    出版: (2012)
  • Infrared ellipsometry on semiconductor layer structures: Phonons, plasmons, and polaritons
    由: Schubert, Mathias
    出版: (2004)
  • Spectroscopic ellipsometry study of barrier width effect in self-organized InGaAs/GaAsQDs laser diodes /
  • Ellipsometry and polarized light
    由: Azzam, R M A
    出版: (1977)
  • Characterization of CdS based multilayer thin films useful for photovoltaic device fabrication using different techniques with emphasis on ellipsometry
    由: Sunny Mathew
    出版: (1994)

檢索選項

  • 檢索歷史
  • 高級檢索

查找更多

  • 瀏覽目錄
  • 按字母順序瀏覽
  • Explore Channels

需要幫助?

  • 檢索技巧
  • 咨詢台
  • 常見問題
載入...