Skip to content
VuFind
  • Jezik
    • English
    • Deutsch
    • Español
    • Français
    • Italiano
    • 日本語
    • Nederlands
    • Português
    • Português (Brasil)
    • 中文(简体)
    • 中文(繁體)
    • Türkçe
    • עברית
    • Gaeilge
    • Cymraeg
    • Ελληνικά
    • Català
    • Euskara
    • Русский
    • Čeština
    • Suomi
    • Svenska
    • polski
    • Dansk
    • slovenščina
    • اللغة العربية
    • বাংলা
    • Galego
    • Tiếng Việt
    • Hrvatski
    • हिंदी
Napredno
  • Ellipsometry:
  • Citiraj
  • Pošljite email
  • Natisni
  • Izvozi zadetek
    • Izvozi v RefWorks
    • Izvozi v EndNoteWeb
    • Izvozi v EndNote
  • permanent_link
Nalaganje...

QR koda

Ellipsometry: proceedings of the third international conference on wllipsometry

Bibliografske podrobnosti
Drugi avtorji: Bashara, N. M., ed, Azzam, R. M. A., ed
Format: Printed Book
Jezik:English
Izdano: Amsterdam North-Holland 1976
Teme:
Ellipsometry
  • Zaloga
  • Opis
  • Podobne knjige/članki
  • Knjižničarski pogled
Opis
Fizični opis:vii,518p.

Podobne knjige/članki

  • Ellipsometry at the nanoscale/
    Izdano: (2012)
  • Infrared ellipsometry on semiconductor layer structures: Phonons, plasmons, and polaritons
    od: Schubert, Mathias
    Izdano: (2004)
  • Spectroscopic ellipsometry study of barrier width effect in self-organized InGaAs/GaAsQDs laser diodes /
  • Ellipsometry and polarized light
    od: Azzam, R M A
    Izdano: (1977)
  • Characterization of CdS based multilayer thin films useful for photovoltaic device fabrication using different techniques with emphasis on ellipsometry
    od: Sunny Mathew
    Izdano: (1994)

Iskalne možnosti

  • Iskalna zgodovina
  • Napredno iskanje

Poišči več

  • Prelistaj katalog
  • Po abecedi
  • Explore Channels

Potrebujete pomoč?

  • Navodila za iskanje
  • Vprašaj knjižničarja
  • Pogosta vprašanja
Nalaganje...