Optical methods of measurement : wholefield techniques /

מידע ביבליוגרפי
מחבר ראשי: Sirohi, Rajpal S.
מחברים אחרים: Chau, F. S.
פורמט: Printed Book
שפה:English
יצא לאור: New York : Marcel Dekker, 1999.
סדרה:Optical engineering (Marcel Dekker, Inc.) ; v. 65.
נושאים:
Optical measurements

PHY

פרטי מלאי ספרים מ PHY
סימן המיקום: 681/.25 SIR
עותק סטטוס עדכני לא זמין

פריטים דומים