Загрузка...
Electron and ion microscopy and microanalysis : principles and applications /
| Главный автор: | |
|---|---|
| Формат: | Printed Book |
| Язык: | English |
| Опубликовано: |
New York :
Marcel Dekker,
c1982.
|
| Серии: | Optical engineering (Marcel Dekker, Inc.) ;
v. 1. |
| Предметы: |
PHY
| Шифр: |
502/.8/25 MUR 502/.8/25 MUR;1 |
|---|---|
| Копировать | Недоступно состояние Live" What does mean the status Live (working) |
| Копировать | Недоступно состояние Live" What does mean the status Live (working) |