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Electron and ion microscopy and microanalysis : principles and applications /
मुख्य लेखक: | |
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स्वरूप: | Printed Book |
भाषा: | English |
प्रकाशित: |
New York :
Marcel Dekker,
c1982.
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श्रृंखला: | Optical engineering (Marcel Dekker, Inc.) ;
v. 1. |
विषय: |
PHY
बोधानक: |
502/.8/25 MUR 502/.8/25 MUR;1 |
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