Electron and ion microscopy and microanalysis : principles and applications /

Detalles Bibliográficos
Autor Principal: Murr, Lawrence Eugene
Formato: Printed Book
Idioma:English
Publicado: New York : Marcel Dekker, c1982.
Series:Optical engineering (Marcel Dekker, Inc.) ; v. 1.
Subjects:
Electron microscopy > Field ion microscopy > Microprobe analysis

PHY

Detalle de Existencias desde PHY
Número de Clasificación: 502/.8/25 MUR
502/.8/25 MUR;1
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