Electron and ion microscopy and microanalysis : principles and applications /

Détails bibliographiques
Auteur principal: Murr, Lawrence Eugene
Format: Printed Book
Langue:English
Publié: New York : Marcel Dekker, c1982.
Collection:Optical engineering (Marcel Dekker, Inc.) ; v. 1.
Sujets:
Electron microscopy > Field ion microscopy > Microprobe analysis

PHY

Informations d'exemplaires de PHY
Cote: 502/.8/25 MUR
502/.8/25 MUR;1
Exemplaire Statut en temps réel indisponible
Exemplaire Statut en temps réel indisponible

Documents similaires