Загрузка...
Field ion microscopy; principles and applications,
| Главный автор: | Müller, Erwin W. |
|---|---|
| Другие авторы: | Tsong, Tien Tzou |
| Формат: | Printed Book |
| Язык: | English |
| Опубликовано: |
New York,
American Elsevier Pub. Co.,
1969.
|
| Предметы: |
Схожие документы
-
Electron and ion microscopy and microanalysis : principles and applications /
по: Murr, Lawrence Eugene
Опубликовано: (1982) -
Atom probe microscopy
по: Gault, Baptiste et.al
Опубликовано: (2012) -
Near field optics and nanoscopy /
по: Fillard, J. P.
Опубликовано: (1996) -
Onium ions /
по: Olah, George A^het al.
Опубликовано: (1998) -
BIOLOGICAL Field emission Scanning Electron Microscopy
по: FLECK
Опубликовано: (2019)